主要技術指標◕◕╃：

　　1₪•✘╃、 正弦柵線密度◕◕╃：任意可調

　　2₪•✘╃、 攝像頭解析度◕◕╃：1280×1024

　　3₪•✘╃、 成像鏡頭◕◕╃：f25mm

　　4₪•✘╃、 三維形貌最大測量範圍◕◕╃：X₪•✘╃、Y(300mm×300mm)•│，Z(100mm)

　　5₪•✘╃、 測量解析度(X₪•✘╃、Y最大尺寸的)◕◕╃：1/1000(X₪•✘╃、Y方向)•│，1/200(Z方向)

　　6₪•✘╃、 測量距離(f25鏡頭)◕◕╃：300mm～1200mm··✘↟│。

　　7₪•✘╃、 適用於物理光柵和投影機產生的光柵圖案··✘↟│。

　　8₪•✘╃、靈活的相移演算法•│，只要有三幅或三幅以上的相移圖都可以處理··✘↟│。

　　9₪•✘╃、可以處理恆定但未知相移角的相移圖··✘↟│。

　　原理示意◕◕╃：

　　應用範圍

　　由於該系統既可配備10倍變焦遠距離顯微成像鏡頭•│，也可配備普通變焦鏡頭•│，使得該系統能同時滿足細觀及宏觀的測量要求··✘↟│。不僅可用於微電子₪•✘╃、生物₪•✘╃、微機械等微細結構的形貌及變形測量•│，也可用於混凝土結構₪•✘╃、岩土試樣等大型構件表面形貌和變形測量··✘↟│。