主要技術指標∶

1.光源∶半導體鐳射器◕✘☁•，功率20mW◕✘☁•，波長532nm    

2.定焦鏡頭∶C介面◕✘☁•，配進口25mm定焦鏡頭

3.相機∶1280×1024 USB攝像頭

4.工作距離∶400~1000mm

5.光學平臺∶1200mm X800mm 

6.影象採集解析度∶1280×1024 

7.剪下角∶0° ±5°連續可調

8.軟體∶ 條紋實時顯示◕✘☁•，影象處理

9.演示試件∶圓盤受均布載荷

10.條紋解析度∶1/20級條紋（13.3nm）

主要配置∶

主機∶ 1臺

25mm定焦鏡頭∶1個

20mW半導體鐳射器∶1臺

1200mmX800mm 光學平臺₪▩₪│•：1套

相移控制器∶1套

圓盤受均布載荷試件∶1套

電腦∶1臺

影象採集及處理軟體∶1套

　　原理示意₪▩₪│•：

　　剪下散斑的基本原理是散斑照相和剪下機理的結合◕✘☁•，它是在散斑照相的基礎上◕✘☁•，透過不同的錯位元件◕✘☁•，把單光束散斑變為雙光束散斑◕✘☁•，因而它具有雙光束散斑的特性◕✘☁•，即原始波面與錯位的波面之間將產生干涉↟╃│▩。

　　離面位移梯度測量原理如圖2所示◕✘☁•，物體A的散斑場經過小剪下稜鏡↟│·、偏振片和CCD的物鏡◕✘☁•，在CCD攝像機的靶面上形成兩幅錯位量為Δ的像◕✘☁•，並在CCD靶面上相干涉↟╃│▩。

　　使用方法₪▩₪│•：

　　用均勻的白光作為光源照射在被測物表面◕✘☁•，為了便於觀察◕✘☁•，可將標定紙(圖示帶有“十”字的卡片)貼在被測物表面◕✘☁•，在計算機顯示屏上觀察並同時調節物距使成像清晰◕✘☁•，如圖示在錯位稜鏡的光路中十字形錯開成兩個像↟╃│▩。

　　將白光光源關閉◕✘☁•，開啟鐳射器電源使得其出光↟╃│▩。調節擴束鏡◕✘☁•，使光均勻擴散在試件表面◕✘☁•，將貼在試件上的標定紙拿下◕✘☁•，分別採集變形前後干涉影象並實時相減◕✘☁•，即可獲得全場離面位移導數影象↟╃│▩。

　　實驗案例₪▩₪│•：鋁蜂窩板鐳射散斑檢測實驗

　　本次實驗用的蜂窩板是鋁蜂窩板◕✘☁•，先後買了厚度為17.45mm和8.5mm的蜂窩板◕✘☁•，14.5mm厚的鋁蜂窩板尺寸大小為₪▩₪│•：長(150mm);寬(100mm)◕✘☁•，外邊已鑲好↟╃│▩。8.5mm厚的鋁蜂窩板尺寸大小為₪▩₪│•：長(250mm);寬(200mm)◕✘☁•，外邊未鑲↟╃│▩。如圖₪▩₪│•：

　　實驗步驟₪▩₪│•：

　　1.調整儀器裝置至正常工作狀態;

　　2.將蜂窩夾芯板固定在實驗臺上◕✘☁•，鐳射器發出的鐳射經擴束鏡擴束後完整覆蓋夾芯板◕✘☁•，調整剪下散斑位置◕✘☁•，使CCD視野清晰並完整覆蓋夾芯板;

　　3.採用熱載入的方式◕✘☁•，熱源為大功率電吹風◕✘☁•，加熱使蜂窩板產生離面微變形;

　　4.在室溫下自然冷卻◕✘☁•，冷卻過程中採集散斑干涉條紋圖↟╃│▩。

　　實驗結果及分析

　　1↟│·、14.5mm厚鋁蜂窩板實驗結果

　　可以看出◕✘☁•，缺陷部位並沒有被測試出來↟╃│▩。由此可分析可能由於此蜂窩板太厚◕✘☁•，或蜂窩紙與鋁板連線的膠水太薄◕✘☁•，導致即使去除了蜂窩紙與鋁板的連線◕✘☁•，影響結果也不是很大↟╃│▩。故實驗結果不明顯↟╃│▩。

　　2↟│·、8.5mm厚鋁蜂窩板實驗結果

　　(1)在圖示部位給蜂窩板製造出長為33mm的缺陷◕✘☁•，測得的圖形為₪▩₪│•：

　　(2)在圖示部位給蜂窩板製造出48mm的缺陷◕✘☁•，測得的圖形為₪▩₪│•：

　　經過這兩種試驗結果的對比◕✘☁•，對於厚度較薄的蜂窩板◕✘☁•，實驗效果明顯可見↟╃│▩。

　　注:要想能夠順利檢測出待測物的缺陷◕✘☁•，要滿足載入後(機械↟│·、熱↟│·、高音訊或真空載入)材料不僅能夠產生離面位移◕✘☁•，而且缺陷兩側材料要能夠產生不同的程度地離面位移◕✘☁•，才能檢測出缺陷的部位◕✘☁•，大小↟╃│▩。

　　應用範圍

　　一般表面變形測量;離面位移測量;面內應變測量;殘餘應力測量;缺陷檢測;密封情況評估;氣體洩漏探測……