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LLH-SI-1XP 一維面內位移相移電子散斑干涉儀

電子散斑干涉術是繼全息干涉術之後發展起來的一種實驗力學新方法₪☁。它捨棄了傳統的拍攝沖印照片複雜的溼處理過程✘☁，而直接依靠光學成像系統和計算機影象採集處理系統獲得干涉條紋₪☁。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用₪☁。用於解決工程中的強度和剛度問題✘☁，並可用於殘餘應力測量₪☁。

一維面內位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內位移的干涉條紋✘☁，也可透過相移技術獲得被測表面的全場位移分佈✘☁，可滿足實驗室科研和教學的需要₪☁。配以穩定的懸臂樑載入實驗裝置✘☁，使得整個系統穩定可靠✘☁，易於調節✘☁，能獲得很好的教學效果₪☁。

產品詳情

主要技術指標∶

1.光源∶半導體鐳射器（綠光）✘☁，輸出功率20mw✘☁，波長532nm

2.相機∶1280×1024 USB2.0數字攝像頭

3.鏡頭∶25mm定焦鏡頭（標配）✘☁，可選配其它C介面鏡頭

4.工作距離∶400~800mm

5.條紋解析度∶1/20級條紋（13.3nm）

6.最大範圍∶200mm×200mm

主要配置∶

主機∶1套

532nm半導體泵浦固體鐳射器（內建）↟✘：1個

C介面鏡頭 f25mm定焦鏡頭∶1個

攝像頭（內建）∶1只

1200mm X800mm 光學平臺∶1套

懸臂樑載入裝置∶1套

影象採集及處理軟體∶1套

原理示意

應用範圍

可用於面內二維位移場的高精度測量↟✘：

數字散斑位移檢測技術已被廣泛地應用於工業檢測中,用以提高工業檢測的質量和增強對複雜材料效能的認識: 可用來檢測幾釐米甚至幾毫米樣品的面內;檢測複合生物材料的特性;檢測高溫物體的熱變形;觀察透明液體中的物理現象,如在水溶液或凝膠體中晶體形成過程時密度₪₪◕、濃縮梯度的變化等等₪☁。

教學↟✘：

用於材料力學和實驗力學課程的實驗教學₪☁。